一、產(chǎn)品特點(diǎn)

ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱，可進(jìn)行升降溫速率5度以上的高溫、低溫交變環(huán)境，通過溫度循環(huán)應(yīng)力,以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障。是一種檢測(cè)材料在快速的升降溫速率環(huán)境下的耐熱、耐寒性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。

二、參照標(biāo)準(zhǔn)

GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫

GB/T 2423.2-2008第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫

GJB150.3A－2009高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4A－2009低溫試驗(yàn)方法

GJB1032-90                  電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

GB2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分試驗(yàn) Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

溫度變化速率:5C/min(整個(gè)溫度變化幅度內(nèi)的平均值)。

一次循環(huán)時(shí)間:3h20min 或 4h。

溫度循環(huán)數(shù)及溫度循環(huán)試驗(yàn)時(shí)間:在缺陷剔除試驗(yàn)中，溫度循環(huán)為 10 次或 12 次，相應(yīng)試驗(yàn)時(shí)間為 40h。在無(wú)故障檢驗(yàn)中則為 10~12 次或 1224 次，時(shí)間為 40~48h。

三、技術(shù)規(guī)格

以上就是快速溫變?cè)囼?yàn)箱廠家對(duì)這個(gè)產(chǎn)品的介紹，如果您還有其他快速溫變?cè)囼?yàn)箱系列疑問和需求的話，歡迎聯(lián)系中亞試驗(yàn)！